上午 | 主论坛 | ||
09:00 - 09:25 | 会议登记入场 | ||
09:25 - 09:30 | 主席致辞 | ||
09:30 - 10:00 | 全球半导体产业及系统集成的趋势展望 | ||
10:00 - 10:30 | SiP封装技术在展锐的发展和应用 | ||
10:30 - 11:00 | Chiplet技术与设计挑战 | ||
11:00 - 11:30 | SiP应用解决方案 | ||
11:30 - 12:00 | 检测量测系统在先进封装的应用探讨 | ||
12:00 - 13:30 | 午餐 & 展区参观 | ||
下午 | 分论坛1: SiP设计和制造 | 分论坛2: SiP测试&设备 | 分论坛3: SiP基板和材料 |
13:30 - 14:00 | 封装集成创新引领电子产业变革 | 提升I-V/C-V测量与实现高吞吐量测试的新工具 | Chiplet应用落地的可行性探索 |
14:00 - 14:30 | 打破测试极限:Ansys CPS-SiP先进封装仿真分析和验证 | 先进测试技术助力先进封装发展 | 芯片嵌埋载板集成助力SiP先进封装 |
14:30 - 15:00 | 新一代2.5D/3D IC异构封装EDA方案 | SiP封装划片设备的制程应用 | SiP细间距锡膏配方和印刷参数优化 |
15:00 - 15:30 | 如何迎接2.5D/3D先进封装时代所面临的挑战 | SiP微组装设备的若干工程挑战 | 用于高效SiP和异构集成的先进封装方案 |
15:30 - 16:00 | SiP先进封装设计实践 - Zuken EDA方案 | TOWA先进封装技术整体解决方案 | 应用于SiP的互连新材料和新方案 |
16:00 - 16:30 | 算力时代新引擎,异构集成与异构计算 | 先进封装进入加速发展阶段 | 超微锡膏在系统级封装中的应用 |
16:30 - 17:00 | SiP在电源模块中的应用 | —— | —— |